Q8344A光谱分析仪

Q8344A光谱分析仪Q8344A爱德万Q8344A
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●连续测量
●1.5秒/扫描的高速测量
●0.35μm到1.75μm的宽波长范围
●0.1nm的波长测量精度
Q8344A光谱分析仪
Q8344A是具有0.35到1.75μm的宽波长范围的光谱分析仪。
在傅立叶光谱系统中,迈克尔逊干涉仪的应用使单色器的离散光谱系统所不能进行的连续分析成为可能。它显示了评估CD和视频光盘的激光二极管的能力。
作为参考波长的内置HE-NE激光器可以识别±0.1nm(1.3nm) 的波长精度，甚至在不经过波长校准的情况下也可以保证长期的测量稳定性。
Q8344A提供了最大0.05nm(在0.85μm)的波长分辨率，适合于测量窄模式间隔的激光二极管。不论分析的跨度多少，测量速度进约为1.5秒（在0.4μm到1.05μm和0.8μm到1.75μm），使它可以作为系统一部分。
Q8344A具有全面的显示、分析和处理功能，它可以对诸如激光二极管和LED之类的光发射元件以及光纤和滤波器光元件进行特性测量。
连续测量
由于Q8344A使用了迈克尔逊干涉仪，它可以进行连续测量。这项功能使它可以轻松地对视频光盘的激光二极管的回光所引起的噪声抑制进行评估，分析范围大约为±10mm。
1.5秒/扫描的高速测量
Q8344A采用傅立叶频谱系统，因而对任何的测量跨度和灵敏度都可以在1.5秒内完成测量。(提供起始波长是0.4μm或更长并 且测量不能同时覆盖短的波长和长波长)。因此，分析仪适合于测量生产线上的激光二极管和LED，并且可以评估光纤和滤波器的传输和损耗的特征。
当作为系统组成部分时，分析仪只需要1.5秒就可以完成触发，测量和数据输出。
0.05nm的最大波长范围
在短波长(0.85μm)时Q8344A提供0.05nm的最大分辨率，使它可以以全分解振荡模式依次对CD和可视光激光二极管进行测量。
大量规光纤输出（选件）
200μm大量输出可以作为选件使用。当分析波长大于标准光纤量规(GI50μm)的装置时，可选用此选件。对激光二极管分析，推荐标准50-μm规格，对LED分析，推荐选用规格。
标准附件
产品名称 类型 描述
功率电缆 A01402 1
打印机纸 A09075 5卷(包括在选件01中)

选件
选件01：内置打印机 显示器上所显示的数据硬拷贝
打印系统：热敏式打印行点系统
打印速度：8秒或者更少
记录纸：A09075
纸宽：114nm
选件10：200μm光纤输入(订购是请确认)

一般指标：
工作环境：
温度：-10~+40℃湿度85%RH或更小(不需要冷凝)
存储环境：
温度：-10~+50℃，湿度：90%RH或更少(不需要冷凝）
电源要求： 198~250VAC，48~66Hz,180VA或更少
尺寸：近似424mm(宽)×221mm(高)×550mm(长)
质量：最大27kg(包括打印机选件)
技术指标
波长：
测量范围 0.35~1.75μm
最大分辨率*1 近似为0.05nm(0.85μm)
近似为0.1nm(1.31μm)
精度 ±0.1nm(波长显示为真空中的值)
带宽 0.1~140nm/DIV
电平
测量范围（输入灵敏度） -70dBm到+10dBm(0.7~1.6μm)
-60dBm到+10dBm(0.45~1.7μm)
-45dBm到+10dBm(0.35~1.75μm)
最小电平在经过16次平均的50nm带宽处
精度 ±2.0dB或更少（0.85μm或1.31μm的波长处）
线性度*2 ±1.0dB/25dB或更少
±0.5dB/10dB或更少
标度 0.2，0.5，1.0，2.0，5.0，10.0dB/DIV和线性
处理功能
测量时间*3 1.5秒或更少(单一模式，平均：1，触发到数据输出)
存储功能 32页(测量数据) 10页(测量条件)带备用电池
显示 全屏，分屏(上部和下部)，三维显示，光标功能
计算/分析 连续分析(±10.4nm）；
正常化(损耗/传输)平均；
自动峰值搜索；
半宽度测量；
最佳测量条件自动设置
输入和输出
输入连接器 FC型内部光纤标准：G150μm；选件10：SI 200μm 选件10：SI 200μm
数据输出 GPIB作为标准配备 直接绘图仪输出*4 内置打印机(选件01)

*1分辨率为第N个数据点与第(N+1)个数据点之间的波长差值
*2去输入为0dBm或更低时
*3起始波长为0.4μm或更低,并且测量不覆盖短波长和长波长
*4适用的绘图仪有R9833和TR9832(爱德万)7475A，7440A和7470A(HP)。